【11月21日】洗浄プロセスにおける残存汚れの定量評価入門
（2011年10月16日）
Tweet★見た目では判別できない洗浄後の汚れの残存度合を定量的に評価！
ＦＡＸからのお申し込みは下記ＰＤＦパンフレットをご利用ください
セミナー番号 | S11129 |
講 師 | 元日立プラント建設機電エンジニアリング(株)顧問 /日本産業洗浄協議会シニアアドバイザー 平塚 豊 氏 |
| 対 象 | 洗浄プロセス技術者・担当者など |
会 場 | てくのかわさき 1Ｆ 第1研修室 [神奈川・川崎] 東急溝の口駅東口より徒歩8 分、 JR武蔵溝ノ口駅は北口より徒歩8 分 |
日 時 | 平成23年11月21日（月）13:00～16:30 |
| 定 員 | 30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。 |
聴講料 | 【早期割引価格】1社2名まで46,200円(税込、テキスト費用を含む) |
お申込 |  お申込み専用ホームページに移動します |
【講座の趣旨】
洗浄は洗っただけでは汚れが必要なきれいさまで除去できたかは分からない。残存する汚れの量を測定し、許容値と比較して判断する必要がある。本講義ではそのための種々の測定法を解説する。
【プログラム】
１．洗浄評価の必要性
２．表面清浄度の表し方
３．洗浄要求清浄度レベルと評価の方法
４．簡便な洗浄評価法
（１）目視法
（２）顕微鏡法
（３）水濡れ性を利用する方法
（a）水切り法
（b）アトマイザー法
（c）呼気法
（４）転写法
（a）拭き取り法
（b）粘着テープ転写法
（５）接触角測定法
（a）表面有機汚染に対する感度
（b）微小領域での測定
（c）大物部品表面での測定
（６）膜はがれ法
５．付着粒子計数法
（１）光散乱法
（２）洗浄後液中粒子カウンター使用法
６．残存油性汚れ定量法
（１）秤量法
（２）紫外吸光光度法
（３）ガスクロマトグラフ法（GC-MS法）
（４）液体クロマトグラフ法
（５）全反射赤外吸収測定法
７．金属・イオンなどの無機汚れ定量法
（１）イオンクロマトグラフ法
（２）原子吸光法
（３）誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS法）
８．表面汚染の直接分析法
（１）全反射蛍光X線分析法
（２）オージェ電子・光電子分光法
（３）二次イオン質量分析法（D-SIMS法）
（４）飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS,S-SIMS法）
【質疑応答 名刺交換】
