『高分子材料中の微小異物分析技術』～試料の前処理と分析のノウハウ～
（2010年10月31日）
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【講座趣旨】
電気・電子材料、光電子材料、自動車材料および包装材料など種々の工業材料では材料中の微小異物の混入が品質上問題となる場合があり、時として実用上致命的な欠陥を招くこともある。材料の製造と使用に関する問題解決の手段として高分子材料中の微小異物分析法の開発は重要な課題の一つである。微小異物の分析には顕微FT-IR、顕微ラマン、SEM-XMA、TOF-SIMS、X線マイクロディフラクメーター、マイクロXPS、走査型オージェ電子顕微鏡およびマイクロMSなどが用いられているが、特に有機微小異物の定性分析には顕微FT-IR、顕微ラマンが最も有効なツールである。
本講座では高分子材料の微小異物分析の実際について実試料を用いて分かり易く解説する。また分析試料の前処理のノウハウについて詳細に説明し、分析相談にも対応する。
【プログラム】
1.異物分析に使用されている分析機器の概要
1.1.顕微FT-IR
1.2.顕微ラマン
1.3.その他の機器
2.試料前処理方法のテクニック
2.1.前処理装置
2.2.前処理の道具
2.3.異物の採取方法
3.顕微赤外分光法による分析のテクニック
4.顕微ラマン分光法による分析のテクニック
5.X線マイクロアナライザーによる分析のテクニック
6.その他の分析機器による分析のテクニック
7.実試料の分析と解析例
7.1.高分子材料成形品中の微小異物分析
7.2.自動車材料中の微小異物分析
7.3.電気・電子材料および光電子材料中の微小異物分析
8.異物発生要因の解明技術と製造現場へのアプローチ
9.異物分析に関する相談会
【質疑応答・名刺交換】
