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【6月21日】『無料データベース・ツールを活用した特許調査・分析&文献調査・分析テクニック』


セミナー概要


セミナー番号
S00603

講 師
 
日本技術貿易(株) IP総研 コンサルティングソリューショングループ グループリーダー 野崎 篤志 氏
 
対 象特許・パテントに関係するすべての方
会 場
日 時
平成22年6月21日(月) 10:30~16:30
定 員20名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料
1名につき43,050円(税込、テキスト費用・昼食代含む)

初めてお申込みの方は1名につき41,050円(税込、テキスト費用・お茶代含む) 要(無料会員登録)

※同一法人より2名のお申し込みの場合、69,300円。

◆詳細・お申し込みはこちらから◆
(画面下部の項目を選択して『カゴに入れる』を選択)
 

 

◆ 講演趣旨 ◆

無料で利用できる特許検索データベース(日本特許電子図書館IPDLやUSPTO・esp@acenet等)や文献検索データベース(CiNiiJ-STAGE、Google Scholar等)が登場してから10年ほどが経過しました。無料データベースといいながらも、備えられている機能を利用することで、先行技術調査や研究開発戦略策定などに十分に活用することができます。
本講座では受講者の皆様にPC演習(データベース演習、Excel・PowerPoint演習など)を通じて、特許情報だけではなく文献情報も含めた調査・分析テクニックを体得していただくことを目的としております。
 

◆ プログラム ◆

※本セミナーでは受講者全員文のパソコンをご用意してあります。
 

1.技術情報調査の基礎知識

 1-1.技術情報を巡る最近の状況
 1-2.技術情報(特許・文献など)の種類
 1-3.技術情報の調査方法
 

2.特許調査データベースとツールの活用方法

 2-1.特許調査の基礎知識
 2-2.特許検索式作成のためのDB・ツール活用方法
 2-3.テキストマイニングDB・ツールの利用について
 2-4.特許調査結果のまとめ方
 

3.特許分析データベースとツールの活用方法

 3-1.特許分析・パテントマップの基礎知識
 3-2.無料で利用できる特許分析ツール
 3-3.特許分析結果のまとめ方
 

4.文献調査・分析およびその他ツール

 4-1.文献調査・分析の基礎知識
 4-2.無料で利用できる文献調査データベース
 4-3.無料で利用できる文献分析ツール
 

5.特許・文献情報を調査・分析実習

 5-1.無料DBを活用した先行技術調査
 5-2.無料DB・ツールを活用したパテントマップ作成


【質疑応答・名刺交換】


 

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